在交變電場(chǎng)作用下，電介質(zhì)有弛豫現(xiàn)象，電介質(zhì)的電容率是與電場(chǎng)頻率相關(guān)的，描述這種關(guān)系的方程稱(chēng)為德拜方程，其表示式如下：

一、原理

在交變電場(chǎng)作用下，電介質(zhì)有弛豫現(xiàn)象，電介質(zhì)的電容率是與電場(chǎng)頻率相關(guān)的，描述這種關(guān)系的方程稱(chēng)為德拜方程，其表示式如下：

溫度對(duì)弛豫極化有影響， 因此也影響到介質(zhì)損耗功率 Pw、介電常數(shù) εr、損耗角正切 tanδ的變化。溫度升高，弛豫極化增加，且離子間易發(fā)生移動(dòng)，所以極化的弛豫時(shí)間 τ減小。具體情況可結(jié)合德拜方程分析。

二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備

本實(shí)驗(yàn)采用LCR數(shù)字電橋和高低溫試驗(yàn)室，進(jìn)行電容器介電頻譜的測(cè)量，可同時(shí)自動(dòng)

獲得主參數(shù)電容量（C）和輔參數(shù)損耗角正切值（D）或品質(zhì)因子（Q），其中的電容量 C 結(jié)合樣品的幾何參數(shù)后，可計(jì)算出相應(yīng)的介電系數(shù)εr。

三、測(cè)量準(zhǔn)備

1、對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行編號(hào)，并測(cè)量樣品的直徑和厚度，記錄下來(lái)。

2、打開(kāi)高低溫試驗(yàn)箱的樣品室，將待測(cè)樣品按編號(hào)依次用電烙鐵焊在樣品盒上，關(guān)上樣品室的門(mén)。

四、測(cè)量步驟

1. 依次打開(kāi)高低溫試驗(yàn)箱、 LCR 測(cè)試儀、電子轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)、 計(jì)算機(jī)的電源， 打開(kāi) “LRC實(shí)驗(yàn)控制平臺(tái) ”軟件，對(duì)實(shí)驗(yàn)參數(shù)進(jìn)行設(shè)置。

2.關(guān)閉 LRC 實(shí)驗(yàn)控制臺(tái)，關(guān)閉設(shè)備的電源。